半导体集成电路表面复杂缺陷AI综合识别系统为一套基于AI技术，用于半导体集成电路如SOC，芯片的最后质量检测工序，针对芯片表面如划痕、凹点、字符清晰度、极性、污渍等各类复杂瑕疵，以AI识别为核心算法，综合运用机光电技术，本产品的优势在于识别率高，识别范围广，与工厂生产系统对接丰富完善的特点。